Sistema di prova e Metodologia di test
I test eseguiti sulla GIGABYTE Z77X-UD4H hanno lo scopo di verificare sia la stabilità della scheda a frequenze d’uso comune e con le normali applicazioni uso ufficio, sia a verificarne la qualità e la competitività sul mercato oltre a valutarne la stabilità della stessa sotto stress avvalendoci della pratica dell’overclock. Per la rilevazione della temperatura sotto overclock ci avvarremo di una sonda del termometro digitale della Voltcraft mod. K101 al fine di rilevare con estrema precisione anche la temperatura dei dissipatori passivi della zona socket. In questo modo potremo verificare sia l’efficacia del sistema dissipante sia l’efficienza dei regolatori di tensione della scheda madre. Riassumiamo quindi in tabella i componenti utilizzati per i test:
Per rendere i risultati più interessanti sul piano della validità e competitività del prodotto, li abbiamo comparati con le altre schede madri della stessa tipologia, che sono state oggetto di nostre precedenti recensioni e di cui potete leggerne gli articoli sul nostro portale. La comparazione è resa possibile perché la componentistica hardware utilizzata è la medesima, come pure il chipset in dotazione che accomuna le schede madri. Avvisiamo che le prove effettuate in precedenza su altre schede madri abbiamo utilizzato come VGA una GTX580, mentre per la GIGABYTE Z77X-UD4H oggetto di questa recensione in sua assenza ci siamo avvalsi della ATI RADEON HD5970, tenetene conto ai fini dei risultati postati nei grafici 3D. Nelle conclusioni terremo ovviamente conto della fascia in cui si colloca il prodotto in relazione al prezzo.
